如何確定示波器之信號完整性
2025/05/03
簡介
電子學的世界,信號完整性一直是個熱門議題。隨著今日的設計邊限越來越小且資料速率越來越快;代表相較以往,量測必須更加準確。每家示波器廠商對信號完整性都有自己的要求和標準:ADC 位元數最高、雜訊底線最低、取樣率最快等等。這些規格雖重要,但全面了解整個量測系統,不只是僅憑其中一項規格就做出決策,也非常關鍵。
了解每一項規格對您的設計真正的意義,在測試時能夠節省寶貴時間,並減少發生讓您心痛的情況。因為這樣您就會知道必須採用什麼方法來確定真實信號完整性。
在本電子書中提出的建議和秘訣適用任何一家廠商的示波器。您可以儘管將其運用在現有的示波器上,如果拿來對多個示波器進行展示更好,然後再自行比較。
Keysight S 系列示波器專為量測信號完整性而設計。它具備領先業界的規格準,可協助您了解如何查看真實的信號再現。
| 秘訣 1 : 了解 ADC 位元數和有效位元數 |
示波器的 ADC 位元數是最受關注的一項規格。因此,許多工程師常常僅憑這項規格就判定示波器的品質。雖是一項重要規格,但如果示波器的其他部份設計不良,那 ADC 位元數也可能會變得無關緊要。
和 ADC 位元數同樣重要的是系統的有效位元數(系統 ENOB)。系統 ENOB 是進行量測時發揮實際效益的位元數。不論任何示波器,有部份 ADC 位元數是無用的 ─ 它們只會在雜訊中運作。所以,決定示波器量測品質的是 ENOB,而不是ADC 位元數。如果量測品質過於低落,結果就會不準確且不具備可重複性,導致設計中不正確的假設。
將 ENOB 視為一個更好的信號完整性指標會更加安全,因為它將系統錯誤納入考量。
示波器廠商通常不會提到系統 ENOB,因為設計高 ENOB 不像拉高 ADC 位元數容易。ADC 前端和支援電路都必須以最高品質設計,這並不是一項容易的工作。
而廠商總是會選擇對其最有利的角度向市場標示規格。因此,當您看到高 ADC 位元數規格,它是一個好的考量因素,但您也必須確認和信號完整性有關的其他重要元件。ADC 位元數只是影響信號完整性一小部份的因素。

| 秘訣 2 : ADC ENOB vs. 系統 ENOB |
ADC ENOB 指的是 ADC 中的有效位元數,請記住是只有 ADC。然而,示波器是由整個系統所組成,並非只有 ADC。ADC ENOB 此規格並不能代表整個示波器的有效位元數,在進行量測時,這點非常重要。
系統 ENOB 則是可在螢幕上看到、進行量測時,以及使用分析功能時的有效位元數。
系統 ENOB 可以讓您獲得成功的測試,但也可能毀了它。如果您的系統 ENOB不夠高,您就永遠無法獲得穩定設計所需的清晰度。
| 秘訣 3 : 頻寬 不是 越大越好 |
太大的頻寬可能會有問題。如果您的示波器頻寬太高,可能會改變量測結果。因為高頻寬的示波器會擷取到高頻雜訊。如果夠用,請使用最低的頻寬,以準確地擷取您的信號。如有必要,請以示波器內建的硬體或軟體濾波器來限制頻寬。
雜訊的多寡,對系統的 ENOB 影響極大,雜訊愈多,ENOB 愈低。
圖 2 的範例顯示在兩種不同頻寬下擷取一個 20 MHz 的信號,看起來是什麼樣子。使用適當的 100 MHz 頻寬(下方),可擷取乾淨的信號。相較之下,使用8 GHz 的頻寬進行擷取(上方),會出現較多的雜訊,導致較粗的信號與不正確的峰值量測結果。
這是一項簡單的課題,然而卻有一項普遍不為人知的事實:頻寬愈高,ENOB 愈低。

| 秘訣 4 : 所有頻寬 並非都是以相同條件產生 |
示波器的頻率響應呈現一個事實:不是所有頻寬都是以相同條件產生。
圖 3 讓這個概念更加容易理解。請注意,當您逐漸提高是德科技示波器的頻寬,頻率響應可保持平坦。因為它使用了硬體修正濾波器,因此您的信號幾乎沒有衰減。螢幕上所見就是裝置的真實信號。如此可確保您能夠充分使用示波器的整個頻寬,獲得準確的量測。
另一方面,部份廠商並不使用修正濾波器。因此儀器可能會對高頻元件進行微小的激發。此舉是為了讓您的高頻信號落在量測頻寬範圍內而進行的衰減。最終,這會影響您在螢幕上看見的信號,並造成所有峰值量測出現偏差。
如此會打亂您所有的量測結果,讓您感到困惑,無法得知設計是哪個地方出錯,而事實上,自始至終都是因示波器的信號完整性不佳所致。

| 秘訣 5 : 不同偏移下的雜訊底線 |
這點可能會讓許多工程師感到困惑:您知不知道示波器的雜訊底線,會視信號在螢幕上坐落的位置而改變?
當信號位在螢幕中央,則具備理想的最低雜訊底線之可能性最高。然而,取決於您儀器中 ADC 的品質,在螢幕上不同的垂直偏移下,您可能會經歷不同的雜訊位準。這與在此偏移下進行顯示所需的量化位準數值有關。
每台示波器都有這個現象,差異只是對您的信號和量測的影響程度大小。如圖 4和圖 5 所示,S 系列的雜訊變化非常少,但這個問題在來自其他廠商的某些儀器上非常嚴重。
您必須在螢幕上的不同點上分析示波器的雜訊底線,確保它不會對您的信號造成影響。

| 秘訣 6 : 了解取樣率和交錯失真 |
一般來說,取樣率愈高,就能看到更多信號細節。然而,這取決於示波器如何獲得高取樣率。
有些示波器可提供難以置信的高取樣率。要做到這點,必須有兩個或更多的交錯式 ADC,例如,以其中一個的時脈相位延遲觸發,再以另一個的碼型進行同步。這樣可以有效地將最大取樣率加倍。
但請記住一點。使用此技術,ADC 之間的同步必須極度精確。可惜的是,許多示波器使用者沒辦法做到這點。如果相位延遲時脈未正確地校準,示波器會以不一致的間隔收集樣本。一旦重建並顯示在螢幕上,就會導致波形失真,如圖 6 所示的波形。
幸運的是,是德科技 S 系列示波器不會發生這種情形,因為其 ADC 正確同步,而評估示波器時,正確的同步能力是一項重要考量。部份高階示波器,例如是德科技全新的 UXR 系列,在沒有交錯式 ADC 的情況下,可提供高達 128 GSa/s 的取樣率,讓您獲得最精確的量測

結論
最後,最重要的一點是,了解信號完整性真正的重要性,能夠避免因為一般對此議題的誤解而引起的問題。了解整個量測系統如何運作非常重要。如果您知道該查看哪項規格因素,您就可以輕鬆掌握每台示波器的真實效能。
當您要進行量測或是尋找完美的示波器時,請牢記這些主要課題:
- 永遠要記得詢問系統 ENOB 資訊,以確定整體量測品質
- 記得查看系統 ENOB,不只看 ADC ENOB
- 只使用真正需要的頻寬來降低雜訊,不追求更高的頻寬
- 索取頻率響應圖以確保跨越整個頻寬範圍,示波器的響應保持平坦
- 在示波器螢幕上的不同偏移下檢查雜訊底線,以確保其不會對量測有顯著的影響
- 注意太高的取樣率和不適當的交錯式 ADC
<請觀看影片:如何判斷示波器的量測品質 (可使用字幕翻譯成中文) >
【延伸產品閱讀】
- Keysight S系列示波器 (請點選查看產品規介紹):提供具最低雜訊底線、最高 ENOB、最高頻寬及最低抖動之硬體設備,讓您能觀測到信號的真實樣貌。 除了卓越硬體外,也針對 PCIe、USB、DDR 等標準,提供各種協定、分析與相符性測試軟體。 依您的測試需求,提供完整的高效能量測平台。
- Keysight EXR系列示波器 (請點選查看產品規介紹):可分析電源供應器的輸入、輸出和切換裝置,並透過內建的波型產生器執行 PSRR 和控制迴路響應量測、頻率響應分析;以及對各通道進行標準波罩測試,並利用自動的時間差量測以及靈活的操作介面,輕鬆執行 PMIC 分析。
- 「提升信號完整性的關鍵技巧 」之應用文章
- 「您的示波器能發現偶發事件嗎?」 技術文章